ZEISS Sigma
蔡司 Sigma 系列產品將場發射掃描電子顯微鏡技術與優秀的用戶體驗完美的結合在一起。
產品詳情
更簡單、更智能、更集成
利用 Sigma 直觀的 4 步工作流程，可以使得日常所需的成像和分析的效率得到提高，這樣，將會在比以往更短的時間內獲得更多的結果。另外，Sigma可以配備多種探測器，可以滿足各種不同的應用需求：顆粒物、表面構型、納米結構、薄膜樣品、涂層以及膜層等樣品的成像。采用 Sigma 系列產品將使您在高端成像領域獲得一席之地，其中：Sigma 300 具有極高的性價比；而Sigma 500 以其領先的 EDS 幾何設計實現卓越的分析性能。無論何種試樣，Sigma 都能以其高精確性及可重復的測量結果得到您的信賴！
靈活的探測手段獲取高分辨的圖像
Sigma 的最新探測器技術可以滿足不同需求。全方位的表征樣品的形貌，成分以及晶體結構等。可選的lnLens Duo 探測器可實現在一個探測器上獲取形貌和成分兩種信息，因而更進一步擴展 Sigma 的成像性能。全新一代的二次電子探測器，其信號強度比之前提高 50%，從而可實現更高對比度以及更高分辨率的圖像。另外，在低真空環境中，全新的C2D 和 VPSE 探測器可實現對比度優于之前探測器85% 的清晰的圖像。
智能并加速工作流程
Sigma 的 4 步工作流程可控制查找 Sigma 的所有功能。可快速獲取圖像，同時，節約在不同模式的了解時間，尤其在多用戶使用的情況下。第一步是圖像導航，在電鏡下直觀的進行樣品的導航和定位；接著，只需簡單的點擊鼠標便自動為不同樣品設置最優的成像條件；下一步，使用自動智能成像模式在樣品上定義感興趣區域，便可自動實現在多個樣品上自動采集多組數據。最后，SmartBrowse 軟件將這些數據組處理并繪制成交互式的全景圖。這樣，對樣品便可有完整的理解。
先進的分析系統
Sigma 頂尖的 EDS 幾何設計能夠增強分析能力，尤其是對電子束敏感的樣品。可實現在之前一半的束流下得到分析數據，同時測試速度比之前快一倍。Sigma 系列產品能夠提供快速完整的 X 射線分析及三維重構。Sigma 將 EDS 探測器放置在 8.5mm 的工作距離和 35 度的出射角，通過將探測器的位置靠近樣品，可得到完全沒有陰影區域的分析結果。Sigma的先進分析系統，可成為值得依賴的選擇。
